水下能譜儀與特征X射線有什么關(guān)系?
更新時(shí)間:2022-07-27 點(diǎn)擊次數(shù):961
水下能譜儀的突出優(yōu)點(diǎn)是波長分辨率很高。但由于結(jié)構(gòu)的特點(diǎn),譜儀要想有足夠的色散率,聚焦圓的半徑就要足夠大,這時(shí)彎晶離X射線光源的距離就會(huì)變大,它對X射線光源所張的立體角就會(huì)很小,因此對X射線光源發(fā)射的X射線光量子的收集率也就會(huì)很低,致使X射線信號(hào)的利用率低。
X射線能量色散譜分析方法是電子顯微技術(shù)基本和一直使用的,具有成分分析功能的方法,通常稱為X射線能譜分析法,簡稱EDS或EDX方法。它是分析電子顯微方法中基本,可靠,重要的分析方法,所以一直被廣泛使用。
特征X射線的產(chǎn)生是入射電子使內(nèi)層電子激發(fā)而發(fā)生的現(xiàn)象。即內(nèi)殼層電子被轟擊后跳到比費(fèi)米能高的能級上,電子軌道內(nèi)出現(xiàn)的空位被外殼層軌道的電子填入時(shí),作為多余的能量放出的就是特征X射線。
特征X射線具有元素固有的能量,所以,將它們展開成能譜后,根據(jù)它的能量值就可以確定元素的種類,而且根據(jù)譜的強(qiáng)度分析就可以確定其含量。另外,從空位在內(nèi)殼層形成的激發(fā)狀態(tài)變到基態(tài)的過程中,除產(chǎn)生X射線外,還放出俄歇電子。
一般來說,隨著原子序數(shù)增加,X射線產(chǎn)生的幾率(熒光產(chǎn)額)增加,但是,與它相伴的俄歇電子的產(chǎn)生幾率卻減小。因此,在分析試樣中的微量雜質(zhì)元素時(shí)可以說,EDS對重元素的分析特別有效。
連續(xù)X射線和從試樣架產(chǎn)生的散射X射線也都進(jìn)入X射線探測器,形成譜的背底,因此要根據(jù)情況注意是否形成人為的假象。為了要減少從試樣架散射的X射線,可以采用鈹制的試樣架。對于支持試樣的柵網(wǎng),也采用與分析對象的元素不同的材料制作。